Плотность незаполненных электронных состояний сверхтонких слоев дибромо-биантрацена на поверхности послойно выращенного ZnO

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Рұқсат ақылы немесе тек жазылушылар үшін

Аннотация

Приведены результаты исследования топографии поверхности и плотности незаполненных электронных состояний при термическом осаждении сверхтонких пленок дибромо-биантрацена на поверхность ZnO. Измерения электронных характеристик незаполненных электронных состояний в процессе роста пленок дибромо-биантрацена до толщины 10 нм проводили методом спектроскопии полного тока с использованием тестирующего электронного пучка. Анализ экспериментальных зависимостей проводили с использованием теоретического расчета энергий орбиталей молекул дибромо-биантрацена методом теории функционала плотности.

Толық мәтін

Рұқсат жабық

Авторлар туралы

А. Комолов

Санкт-Петербургский государственный университет

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: a.komolov@spbu.ru
Ресей, г. Санкт-Петербург

Э. Лазнева

Санкт-Петербургский государственный университет

Email: a.komolov@spbu.ru
Ресей, г. Санкт-Петербург

В. Соболев

Санкт-Петербургский государственный университет

Email: a.komolov@spbu.ru
Ресей, г. Санкт-Петербург

С. Пшеничнюк

Институт физики молекул и кристаллов – обособленное структурное подразделение Уфимского федерального исследовательского центра РАН

Email: a.komolov@spbu.ru
Ресей, г. Уфа

Н. Асфандиаров

Институт физики молекул и кристаллов – обособленное структурное подразделение Уфимского федерального исследовательского центра РАН

Email: a.komolov@spbu.ru
Ресей, г. Уфа

Е. Жижин

Санкт-Петербургский государственный университет

Email: a.komolov@spbu.ru
Ресей, г. Санкт-Петербург

Д. Пудиков

Санкт-Петербургский государственный университет

Email: a.komolov@spbu.ru
Ресей, г. Санкт-Петербург

Е. Дубов

Санкт-Петербургский государственный университет

Email: a.komolov@spbu.ru
Ресей, г. Санкт-Петербург

И. Пронин

Пензенский государственный университет

Email: a.komolov@spbu.ru
Ресей, г. Пенза

Ф. Акбарова

Физико-технический институт АН РУз

Email: a.komolov@spbu.ru
Өзбекстан, г. Ташкент

У. Шаропов

Национальный научно-исследовательский институт возобновляемых источников энергии при Минэнерго РУз

Email: a.komolov@spbu.ru
Өзбекстан, г. Ташкент

Әдебиет тізімі

  1. Krzywiecki M., Smykala S., Kurek J. et al. // Phys. Chem. Chem. Phys. 2022. V. 24. P. 11828. https://doi.org/10.1039/D2CP00844K
  2. Varghese M.A., Anjali A., Harshini D. et al. // ACS Appl. Electron. Mater. 2021. V. 3. P. 550. https://doi.org/10.1021/acsaelm.0c00931
  3. Алешин А.Н., Щербаков И.П., Трапезникова И.Н. и др. // ФТТ. 2016. Т. 58. С. 1818.
  4. Sosorev A.Y., Nuraliev M.K., Feldman E.V. et al. // Phys. Chem. Chem. Phys. 2019. V. 21. P. 11578. https://doi.org/10.1039/C9CP00910H
  5. Chen M., Yan L., Zhao Y. et al. // J. Mater. Chem. C. 2018. V. 6. P. 7416. https://doi.org/10.1039/C8TC01865K
  6. Постников В.А., Кулишов А.А., Лясникова М.С. и др. // Кристаллография. 2021. T. 21. C. 494. https://doi.org/10.31857/S0023476121030206
  7. Asfandiarov N.L., Muftakhov M.V., Rakhmeev R.G. et al. // J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 2022. V. 256. P. 147178. https://doi.org/10.1016/j.elspec.2022.147178
  8. Komolov A.S., Lazneva E.F., Akhremtchik S.N. // App. Surf. Sci. 2010. V. 256. P. 2419. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2009.10.078
  9. Krzywiecki M., Grzadziel L., Powroznik P. et al. // Phys. Chem. Chem. Phys. 2018. V. 20. P. 16092. https://doi.org/10.1039/C8CP01976B
  10. Лазарев В.В., Блинов Л.М., Юдин С.Г. и др. // Кристаллография. 2015. Т. 60. C. 314. https://doi.org/10.7868/S0023476115020162
  11. Dominskii D.I., Kharlanov O.G., Trukhanov V.A. et al. // ACS Appl. Electron. Mater. 2022. V. 4. P. 6345. https://doi.org/10.1021/acsaelm.2c01481
  12. Komolov A.S., Lazneva E.F., Gerasimova N.B. et al. // J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 2019. V. 235. P. 40. https://doi.org/10.1016/j.elspec.2019.07.001
  13. Frankenstein H., Leng C.Z., Losego M.D. et al. // Organic Electron. 2019. V. 64. P. 37. https://doi.org/10.1016/j.orgel.2018.10.002
  14. Pshenichnyuk S.A., Modelli A., Lazneva E.F. et al. // J. Phys. Chem. A. 2014. V. 118. P. 6810. https://doi.org/10.1021/jp505841c
  15. Pshenichnyuk S.A., Modelli A., Lazneva E.F. et al. // J. Phys. Chem. A. 2016. V. 120. P. 2667. https://doi.org/10.1021/acs.jpca.6b02272
  16. Komolov A.S., Moeller P.J., Lazneva E.F. // J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 2003. V. 131–132. P. 67. https://doi.org/10.1016/S0368-2048(03)00104-X
  17. Sharopov U.B., Kaur K., Kurbanov M.K. et al. // Thin Solid Films. 2021. V. 735. P. 138902. https://doi.org/10.1016/j.tsf.2021.138902
  18. Pshenichnyuk S.A., Modelli A., Asfandiarov N.L. et al. // J. Chem. Phys. 2019. V. 151. P. 214309. https://doi.org/10.1063/1.5130152
  19. Komolov A.S., Moeller P.J. // Appl. Surf. Sci. 2005. V. 244. P. 573. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.10.122
  20. Комолов С.А., Лазнева Э.Ф., Комолов А.С. // Письма в ЖТФ. 2003. Т. 29. № 23. С. 13.
  21. Bartos I. // Progr. Surf. Sci. 1998. V. 59. P. 197. https://doi.org/10.1016/S0079-6816(98)00046-X
  22. Komolov A.S., Moeller P.J., Aliaev Y.G. et al. // J. Mol. Struct. 2005. V. 744–747. P. 145. https://doi.org/10.1016/j.molstruc.2005.01.047
  23. Frisch M.J., Trucks G.W., Schlegel H.B. et al. Gaussian 09, Revision D.01, Gaussian, Inc., Wallingford CT, 2016.
  24. Burrow P.D., Modelli A. // SAR QSAR Environ. Res. 2013. V. 24. P. 647. https://doi.org/10.1080/1062936X.2013.792873
  25. Scheer A.M., Burrow P.D. // J. Phys. Chem. B. 2006. V. 110. P. 17751. https://doi.org/10.1021/jp0628784
  26. Jungyoon E., Kim S., Lim E. et al. // Appl. Surf. Sci. 2003. V. 205. P. 274. https://doi.org/10.1016/S0169-4332(02)01115-7
  27. Комолов А.С., Лазнева Э.Ф., Герасимова Н.Б. и др. // ФТТ. 2016. Т. 58. С. 367.
  28. Komolov A.S., Lazneva E.F., Gerasimova N.B. et al. // J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 2015. V. 205. P. 52. https://doi.org/10.1016/j.elspec.2015.08.002
  29. Hill I.G., Kahn A., Cornil J. et al. // Chem. Phys. Lett. 2000. V. 317. P. 444. https://doi.org/10.1016/S0009-2614(99)01384-6
  30. Hitchcock A.P., Fischer P., Gedanken A. et al. // J. Phys. Chem. 1987. V. 91. P. 531. https://doi.org/10.1021/j100287a009
  31. Chen J.G. // Surf. Sci Rep. 1997. V. 30. P. 1. https://doi.org/10.1016/S0167-5729(97)00011-3
  32. Комолов А.С., Лазнева Э.Ф., Герасимова Н.Б. и др. // ФТТ. 2020. Т. 62. С. 1105. https://doi.org/10.21883/FTT.2020.07.49481.048

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
Жүктеу
2. Fig. 1. The structural formula of dibromo-bianthracene molecules (10.10-dibromo-9.9-bianthracene, DBA).

Жүктеу (12KB)
Метадеректер
3. Fig. 2. AFM image of the surface area 3 = 3 mm2 of the DBA film on the ZnO surface obtained by the MN method. The gradations of gray from black to white correspond to the height difference from 0 to 10 nm. The profile of the surface area on the segment marked with a white horizontal bar is shown below.

Жүктеу (36KB)
Метадеректер
4. Fig. 3. TSSPT in the process of deposition of the DBA film coating on the ZnO surface obtained by the MN method. The corresponding thickness of the organic layer is indicated near each curve. Vertical dotted lines are drawn in the area of maxima D1–D4.

Жүктеу (26KB)
Метадеректер
5. Fig. 4. DOUS of DBBA films based on the results of SPT experiments (a) and based on the results of calculations using DFT methods (b). Calculations were performed using the DFT method at the B3LYP/6–31G(d) level and subsequent correction using SVOE formulas was used. The linear spectrum in the lower part (b) is the energy values of the molecular orbitals established during the calculation of the theoretical DOUS. Vertical dotted lines are drawn for the convenience of comparing the position of the maxima.

Жүктеу (24KB)
Метадеректер

© Russian Academy of Sciences, 2024