Локальная диагностика спиновых дефектов в облученных SiC-диодах Шоттки
- Авторы: Лихачев К.В1, Скоморохов А.М1, Учаев М.В1, Успенская Ю.А1, Козловский В.В2, Левинштейн М.Е1, Елисеев И.А1, Смирнов А.Н1, Крамущенко Д.Д1, Бабунц Р.А1, Баранов П.Г1
-
Учреждения:
- Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН
- Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
- Выпуск: Том 120, № 5-6 (2024)
- Страницы: 367-373
- Раздел: Статьи
- URL: https://rjmseer.com/0370-274X/article/view/664370
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0370274X24090081
- EDN: https://elibrary.ru/DHDATJ
- ID: 664370
Цитировать
Полный текст


