Lokal'naya diagnostika spinovykh defektov v obluchennykh SiC-diodakh Shottki
- Authors: Likhachev K.V1, Skomorokhov A.M1, Uchaev M.V1, Uspenskaya Y.A1, Kozlovskiy V.V2, Levinshteyn M.E1, Eliseev I.A1, Smirnov A.N1, Kramushchenko D.D1, Babunts R.A1, Baranov P.G1
-
Affiliations:
- Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН
- Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
- Issue: Vol 120, No 5-6 (2024)
- Pages: 367-373
- Section: Articles
- URL: https://rjmseer.com/0370-274X/article/view/664370
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0370274X24090081
- EDN: https://elibrary.ru/DHDATJ
- ID: 664370
Cite item