ТЕХНОЛОГИЯ
Шығарылым | Атауы | Файл | |
Том 52, № 2 (2023) | Plasma Parameters and Kinetics of Reactive Ion Etching of SiO2 and Si3N4 in an HBr/Cl2/Ar Mixture |
![]() (Rus) |
|
Efremov A., Betelin V., Kwon K. | |||
Том 52, № 2 (2023) | Investigation of the Optical Properties of Ultrathin Films Based on Metal Silicide |
![]() (Rus) |
|
Kerimov E. | |||
Том 52, № 1 (2023) | Параметры газовой фазы и кинетика реактивно-ионного травления SiO2 в плазме CF4/C4F8/Ar/He |
![]() (Rus) |
|
Ефремов А., Kwon K. | |||
Нәтижелер 3 - 1/3 |