НАДЕЖНОСТЬ
| Выпуск | Название | Файл | |
| Том 52, № 4 (2023) | Исследование чувствительной области МОП-транзистора к воздействию вторичных частиц, возникающих вследствие ионизирующего излучения |
 (Rus) |
|
| Глушко А.А., Морозов С.А., Чистяков М.Г. | |||
| Том 52, № 4 (2023) | Одиночные структурные повреждения в СБИС |
(Rus) |
|
| Чумаков А.И. | |||
| 1 - 2 из 2 результатов | |||