Информация об авторе
Волковский, Ю. А.
Выпуск | Раздел | Название | Файл |
Том 68, № 2 (2023) | ДИФРАКЦИЯ И РАССЕЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ | Сравнительная рентгеновская дифрактометрия дефектной структуры эпитаксиальных пленок ZnO, выращенных методом магнетронного осаждения на подложках Al2O3 ориентации (0001) в неоднородном электрическом поле | |
Том 68, № 1 (2023) | ДИФРАКЦИЯ И РАССЕЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ | Новый метод определения размера пучка синхротронного излучения в фокусе составной преломляющей линзы | |
Том 68, № 1 (2023) | ПОВЕРХНОСТЬ, ТОНКИЕ ПЛЕНКИ | Развитие рентгеновских методов исследования белковых планарных систем на поверхности жидкости с использованием синхротронного излучения | |
Том 69, № 6 (2024) | ДИФРАКЦИЯ И РАССЕЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ | Экспериментальное исследование метода рентгеновской фазово-контрастной микроскопии с использованием нанофокусирующей линзы НА “киси-курчатов” |